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噪聲測(cè)試

首頁(yè) 產(chǎn)品與技術(shù) 測(cè)試系統(tǒng)

9812E

緊湊型低頻噪聲測(cè)試系統(tǒng)

噪聲測(cè)試 1/f & RTN噪聲 量產(chǎn)噪聲測(cè)試

9812E是行業(yè)標(biāo)桿級(jí)閃爍噪聲(1/f噪聲)測(cè)試系統(tǒng)9812DX簡(jiǎn)配版。

  • 滿足各種閃爍噪聲和隨機(jī)電報(bào)噪聲/信號(hào)(RTN/RTS)測(cè)試要求。

  • 與概倫FS-Pro半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)搭配共同提供一整套并行測(cè)試框架解決方案。

  • 大幅提高測(cè)試效率和吞吐量。

  • 內(nèi)置功能強(qiáng)大的NoiseProPlus軟件,支持1/f噪聲、RTN噪聲測(cè)試和數(shù)據(jù)分析。

下載產(chǎn)品單頁(yè)

產(chǎn)品亮點(diǎn)

  • 高分辨率

    多組內(nèi)建LNA放大器
    支持極寬的阻抗匹配范圍

  • 高速度

    典型設(shè)備1/f 噪聲
    60 秒/偏置

  • 并行測(cè)試

    與FS-Pro半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)搭配
    提供一整套并行測(cè)試框架解決方案

  • 高成本效益

    品質(zhì)卓越
    性價(jià)比高

  • 寬電壓電流輸入

    最大電壓和最大電流值
    50V和100mA

  • 全器件類型

    MOSFET、SOI、FinFET、TFT、HV/LDMOS、BJT/HBT、JFET、二極管、電阻、封裝集成電路

產(chǎn)品應(yīng)用

  • 先進(jìn)電路設(shè)計(jì)
    工藝/器件評(píng)估

  • 技術(shù)開(kāi)發(fā)制程
    質(zhì)量評(píng)估和監(jiān)控

  • 半導(dǎo)體器件研究
    噪聲特性表征

  • SPICE模型提取
    噪聲特性表征

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